| 产品名称： |
供应UTX650X射线荧光光谱仪 |
| 产品型号： |
UTX650 |
| 品牌： |
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| 产品数量： |
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| 产品单价： |
面议 |
| 日期: |
2020-09-15 |
供应UTX650X射线荧光光谱仪的详细资料
供应UTX650X射线荧光光谱仪 产品介绍：
五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析。镀液分析。
镀层厚度检测
五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等；
PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等
塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等
合金材料分析
不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分
黄铜中的Cu、Zn、Pb等成分
磷铜中的Cu、Zn、Sn、Pb等成分
焊锡中的Sn、Pb等成分
镀液分析
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度
供应UTX650X射线荧光光谱仪 产品特点：
1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度0.01%到；镀层0.02um到40um
3、测量时间短，每个测量只需10-60秒
4、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
6、大窗口正比计数器，提高测量稳定性
7、机械结构简单，可靠
8、FP基本算法软件
9、灵活的应用分析软件
10、仪器安装简单、快速
供应UTX650X射线荧光光谱仪 技术参数：
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测定原理
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能量色散型X射线荧光分析法
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测定对象
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固体、液体、粉状
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测量功能
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单镀层、合金镀层、多镀层测厚、多可测5层；
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元素分析(材料成份分析)
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镀液分析(电镀药水主盐成份分析)
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测量限
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镀层厚度：0.02um，元素分析：100ppm
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厚度测量范围
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0.02-40 um，(W、Au、Pb)10μm、(Cu、Zn、Ni、Cr、Sn)40um，
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厚度测量误差
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一层小于±5%，第二层小于±10%，第三层小于±15%
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元素分析测量范围
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可测元素K19-U92，
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测试时间
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测厚：10-60s，元素分析：10-60s
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X射线发生部分
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X光管产地及品牌
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美国(OXFORD)
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X射线管靶材
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W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选
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X射线管窗口
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铍窗
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电气参数
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50W、4-50kV，0-1000uA
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冷确方式
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硅脂冷却
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X射线照射方式
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↓X射线从上向下照
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照射面积
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zui小的光斑φ0.1mm
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使用寿命
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15000-20000h
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探测器
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探测器产地及品牌
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美国（LND）
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制冷方式
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电制冷(-1900C)
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分辨率
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Mn的半峰宽760eV
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探测窗口
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铍窗、窗口面积：400mm2
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高压电源
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高压包产地及品牌
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美国(SPELLMAN)
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输入电压
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24VDC±10%、
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输出电压
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0-50kV、0-2.0mA，输出精度0.01%
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备注
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有自动软件侦测功能
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光路系统
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准直器系统
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单一准直器φ0.1mm、
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对焦系统
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激光镭射对焦
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滤光器
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多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti)
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样品观察系统
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300万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。
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样品室
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样品室内部空间（mm）
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（宽×高×深）：450×160×400mm
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样品台尺寸
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（宽×深）：250×275mm
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样品台承载重量
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≤5kg
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试验样品zui大尺寸
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宽×高×深：440×150×390mm。
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样品台控制方式
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手动样品台
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工作台移动技术数据
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X=200±5、Y=200±5、Z=160±5mm
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数据处理系统
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控制计算机
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联想品牌机M7150，1G内存，160G硬盘
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显示器
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联想17寸LCD显示器
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报告结果
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Word、PDF格式
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软件
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操作系统：WindowsXP、OEM简体中文版
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镀层测厚软件、元素分析软件
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软件语言
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简体中文、繁体中文、英文、其它
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仪器包装参数
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设备主体尺寸（mm）
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宽×高×深：W580×H600×D715mm
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主体重量
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约60kg
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使用环境
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工作环境
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温度15-250C，湿度40-70%RH
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电源系统
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单相220V±10%，工作电压在充许范围内
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其它
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1. 不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置
2. 减少振动
3. 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体
4. 日光不能直射
5. 作为地震的对策，要考虑装置的固定
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