产品名称：	LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪（原装进口）
产品型号：	LEPTOSKOP 2042
品牌：
产品数量：
产品单价：	面议
日期:	2019-08-02

LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪（原装进口）的详细资料

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪（原装进口）  产品介绍：

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。 
  仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。 


LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪（原装进口）  产品特点；


 大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯 
 校准选项 
 出厂时已校准，立即可用 
 在未知涂层上校准* 
 零校准* 
 在无涂层的基体上一点和多点校准* 
 在有涂层的基体上校准* 
  
校准数据可以别单独存储在的校准档案中，也可以随时调出 
  
 可选择的显示模式，以佳形式去完成测量任务* 
 输入和限监视* 
 在Windows下有简单的存储读数档案管理* 
 可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport 
 统计* 
  
 可统计评估999个读数 
 小值、大值、测量个数、标准偏差和限监视 
 局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808） 
 在线统计，所有统计值概括 

LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别

	基本型 – 证明质量的基本特征
	型 - 附加统计评估

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪（原装进口）  技术参数：


 数据传输接口RS232 或 USB 
 电源：电池、充电电池、USB或外接电源 
 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头) 
 测量速度: 每秒测量２个数值 
 存储: 多 9999 个数值，140个文件 
 误差: 
涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后) 
涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄 
涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄 
涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄 
   附件 
  试块和膜片 
 探头定位装置 (适用于微型探头) 
 定位辅助装置 (适用于微型探头) 
 电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理 
 电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里 

多样的探头

多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。

	探头类型	测量方法	测量范围	订货号
	标准探头Fe 0?br> 用于在宽阔的、容易测量的地方	Fe	0 - 3000 祄	2442.100
	标准探头 NFe 0?/font>	NFe	0 - 1000 祄	2442.130
	标准探头 NFe S 0?/font>	NFe	0 - 3750 祄	2442.140
	标准探头 Fe S 0?br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度	Fe	0.5 - 20 mm	2442.120
	标准探头 Fe 90?br>用于测量难接近的部位，例如：管子的内部	Fe	0 - 3000 祄	2442.110
	双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如：管子的内部涂层.	Fe	0.5 - 12.5 mm	2442.200
	微型探头0?用于测量小尺寸和难接近的部位例如：钻孔的底部	FeNFe	0 - 500 祄	2442.300 2442.310
	微型探头 45?用于测量小尺寸和难接近的部位	FeNFe	0 - 500 祄	2442.320 2442.330
	微型探头 90?用于测量小尺寸和难接近的部位例如：管子的内壁和钻孔	FeNFe	0 - 500 祄	2442.340 2442.350
注：点击单独的探头图片，可以得到多详细信息